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ANSI/ASTM D645-1997 纸与纸板厚度测试方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-10 07:51:00  浏览:9045   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:TestMethodsforThicknessofPaperandPaperboard
【原文标准名称】:纸与纸板厚度测试方法
【标准号】:ANSI/ASTMD645-1997
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1997-01-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:纸板;纸;试验;厚度
【英文主题词】:Board(paper);Paper;Testing;Thickness
【摘要】:
【中国标准分类号】:Y30
【国际标准分类号】:85_060
【页数】:
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:TerrestrialTrunkedRadio(TETRA)-HarmonizedENforTETRAequipmentcoveringessentialrequirementsunderarticle3.2oftheR&TTEDirective-Part2:DirectModeOperation(DMO)(EndorsementoftheEnglishversionEN303035-2V1.2.2(2003-01)asGerman
【原文标准名称】:地面中继无线电(TETRA).包括R&TTE指令3.2条款基本要求的TETRA设备用协调的EN标准.第2部分:直接模式操作(DMO)
【标准号】:DINEN303035-2-2005
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2005-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:无线电广播网;接口(数据处理);规范(验收);地面中继无线电;TETRA;数据传送;语音传输;电信;操作模式;无线电设备;无线通信业务;无线电工程
【英文主题词】:
【摘要】:ThisEuropeanstandardspecifiesrequirementsinthetelecommunicationssector.
【中国标准分类号】:M31
【国际标准分类号】:33_070_10
【页数】:2P;A4
【正文语种】:德语


【英文标准名称】:Solarwafers-Part6:Methodforthemeasuringofsubstitutionalatomiccarbonandinterstitialoxygeninsiliconusedforphotovoltaic
【原文标准名称】:太阳能硅片.第6部分:光电器件用硅中代位碳原子和间隙氧含量的测量方法
【标准号】:DINVVDEV0126-18-6-2007
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2007-06
【实施或试行日期】:2007-06-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:碳;结晶体;测定;含量测定;圆盘;电气工程;杂质;测量;测量技术;测量方法;氧;光电器件;半导体材料;半导体工艺;硅;硅片;太阳能电池;太阳能技术
【英文主题词】:Carbon;Crystalline;Definitions;Determination;Determinationofcontent;Disks;Electricalengineering;Impurities;Measurement;Measuringtechniques;Methodsformeasuring;Oxygen;Photovoltaics;Semiconductormaterials;Semiconductortechnology;Silicon;Siliconslices;Solarcells;Solartechnics;Wafers
【摘要】:
【中国标准分类号】:F12
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:6P.;A4
【正文语种】:德语